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造成裝配熱電偶不穩定性的來(lái)源介紹

發(fā)布日期: 2021-04-30
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  裝配熱電偶作為測量溫度的傳感器通常和顯示儀表、記錄儀表和電子調節器配套使用,它可以直接測量各種生產(chǎn)過(guò)程中從0℃到1800℃范圍的液體、蒸汽和氣體介質(zhì)以及固體的表面溫度。它是由兩種不同成份的導體兩端經(jīng)焊接,形成回路,直接測溫端叫測量端,接線(xiàn)端叫參比端。當測量端和參比端存在溫差時(shí),就會(huì )在回路中產(chǎn)生熱電流,接上顯示儀表,儀表上就會(huì )指示出所產(chǎn)生的熱電動(dòng)勢的對應溫度值。
  裝配熱電偶的不穩定性來(lái)源有哪些呢?
  1、玷污會(huì )影響塞貝克系數。偶絲材料往往受到環(huán)境氣氛或保護管雜質(zhì)玷污,不同程度的玷污所產(chǎn)生的附加電勢也不同,這種附加電勢將改變原來(lái)的分度特性,這是造成示值不穩定的一個(gè)因素。檢定該產(chǎn)品所用的絕緣瓷管都要求用水清洗,高溫烘烤并規定正、負極的穿孔極性。若在常用的管中把熱電極的正、負極穿錯,原穿鉑銠孔中的鉑,會(huì )向鉑極滲透而改變熱電特性。上述種種情況都會(huì )影響其穩定性。
  2、偶絲材料多數是合金材料,由于各組分材料的蒸氣壓不同,所以揮發(fā)的程度也不同,在高溫下使用一定時(shí)間后,合金成分比例就有所改變,這將導致熱電勢產(chǎn)生明顯變化。
  3、脆化是導致該產(chǎn)品報廢的普遍因素。熱電極由于玷污、晶粒生長(cháng)以及發(fā)生氧化還原反應和長(cháng)期在高溫下再結晶等因素,都是導致熱電極脆化的原因。熱電極用于原子反應堆中,受到中子轟擊,其中某種元素蛻變成其他元素,改變了熱電極成分。
  4、劇烈的彎曲或其他任何類(lèi)型的加工硬化在偶絲中形成的內應力可能產(chǎn)生物理上的不均勻性,細心操作可以避免大部分由此引起的不均勻性。裝配好的產(chǎn)品經(jīng)過(guò)適當的退火也可在某種程度上減少這種不均勻性。
  希望上述內容能夠幫助大家更好的了解本產(chǎn)品。